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三箱式冷热冲击试验箱

三箱式冷热冲击试验箱

三箱式冷热冲击试验箱系用来测试材料结构或复合材料在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。三箱式冷热冲击冲击试验箱的转换时间是在10秒内,符合MIL, IEC, JIS等世界标准。复归时间则不超出5分钟,也符合多国的标准。LCD显示控制器,并有中英文可供选择。

三箱式冷热冲击试验箱适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,三箱式冷热冲击箱可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.

三箱式冷热冲击试验箱特点:
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 – 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到最小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;

三箱式冷热冲击试验箱执行满足标准及试验方法:
GB11158-2008高温试验箱技术条件
GB10589-2008低温试验箱技术条件
GB10592-2008高低温试验箱技术条件(温度交变)
GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验
GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验
GJB150.5-1986温度冲击试验

三箱式冷热冲击试验箱技术参数:
三箱式冷热冲击试验箱技术参数

关于三箱式冷热冲击试验箱报价的更多详情欢迎您致电本厂了解。本厂可根据您的要求,设计制作非标准规格的冷热冲击试验箱,详情欢迎来电咨询。

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